METTLER TOLEDO梅特勒-托利多 XPR微量分析天平

产品名称：METTLER TOLEDO梅特勒-托利多 XPR微量分析天平

所属分类：微量天平
品牌：瑞士梅特勒－托利多/METTLER TOLEDO
型号：XPR
产品简介：
XPR微量分析天平非常适合在各种大小的实验室器皿中准确称量较小量的珍贵样品。优秀的准确性和低的最小称量值可使您称量很少量的样品，从而节省大量材料与降低成本。

上一页：METTLER TOLEDO梅特勒-托利多 XPR106DUHQ自动定量加样天平

下一页：梅特勒-托利多METTLER TOLEDO 电子天平 XPR56DR/AC 微量分析天平

XPR微量分析天平非常适合在各种大小的实验室器皿中准确称量较小量的珍贵样品。优秀的准确性和低的最小称量值可使您称量很少量的样品，从而节省大量材料与降低成本。

XPR微量分析天平的可读性范围为0.001 mg至0.01 mg，最大量程为52 g，可满足对于微量分析称量的所有要求。

通过内置功能确保合规性

内置质量保证功能可帮助您获得首次准确的称量结果。StatusLight™™、LevelControl和GWP Approved协同作用，确保满足正确称量的所有相关条件。

小样品 — 大节省

通过XPR微量分析天平，可直接在大型去皮容器中称量非常小量的样品，并具有无与伦比的准确性。您不仅可以减少珍贵物质的使用量（较小称重量仅为1.2 mg，符合USP标准），而且尽可能减少了浪费。此外，由于采用内部防风罩设计，因此可减小气流的影响和更快速地取得准确和稳定的结果。

减少样品转移量

通过直接加样至去皮容器内，可避免与转移样品（如称量纸）相关的非常繁琐的回称与重新计算过程，并且不会损失珍贵样品。

快速而稳定的结果

SmartGrid网格秤盘地减小了气流对称量单元的影响。稳定时间缩短，提供结果的速度更快，这对于在通风橱内作业十分有益。

检测静电电荷

对于很小的样品，静电电荷会严重影响到记录的称量值。我们获得的StaticDetect技术可自动检测样品与容器上的静电电荷，并在测量误差超出预先定义的允差时发出警告。

规格

型号	质量比较器 XPR36C	质量比较器XPR56C	电子天平 XPR26/AC	电子天平 XPR26DR/AC	电子天平 XPR56/AC	电子天平XPR56DR/AC
OIML 等级	M1; M2; M3; F1; E1; F2; E2	M1; M2; M3; F1; E1; F2; E2
低载荷下的重复性ABA	0.7 µg; 1 g	0.8 µg; 2 g
保证重复性	0.001 mg	0.002 mg
可读性			0.001 mg	0.01 mg; 0.001 mg	0.001 mg	0.01 mg; 0.001 mg
合法交易			Yes	Yes	Yes	Yes
外形尺寸 (长x高x深)	195 mm x 292 mm x 485 mm		485 mm	485 mm	485 mm	485 mm
尺寸 (高x宽)			292 mm x 195 mm
最大秤量	32 g	52 g	22 g	22 g/5.1 g	52 g	52 g/11 g
最小秤量（符合USP，允差为0.1%，典型）	1.2 mg	1.2 mg	1.4 mg	2 mg	1.4 mg	2 mg
标称载荷下的重复性	2.5 µg	4 µg
标称载荷下的重复性ABA	1.5 µg (1.5 µg; 20 g)	2 µg; 50 g
校正	内部/proFACT高级版	内部/ FACT	内部/ FACT	内部/ FACT	内部/ FACT	内部/ FACT
消除重量偏心载荷	已包含	已包含
砝码称量台	无	无
秤盘外形尺寸(深x宽)			40 mm x 40 mm	40 mm x 40 mm	40 mm x 40 mm	40 mm x 40 mm
秤盘直径	35 mm	35 mm
稳定时间	3.5 s	3.5 s	3.5 s	2.5 s	3.5 s	2.5 s
线性±	0.012 mg
线性误差（典型值）±			0.01 mg	0.02 mg	0.02 mg	0.03 mg
软件	MC Link 2质量校准软件包括	MC Link 2质量校准软件包括
重复性、典型	0.6 µg	0.6 µg	0.0007 mg	0.001 mg	0.0007 mg	0.001 mg
重复性测试载荷			0.0015 mg (1 g)	0.002 mg (1 g)	0.0015 mg (2 g)	0.002 mg (2 g)
重复性（低载荷）(5%)	0.6 µg	0.6 µg
重量	10.1 kg	10.1 kg
防风罩	自动	自动